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> 叶面积分析测量仪(高级)
叶面积分析测量仪(高级)
简要描述:
用于植物叶面积分析等
产品型号:
YMJ-PC
厂商性质:
生产厂家
更新时间:
2025-10-24
访 问 量:
210
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详情介绍
1、配大景深的1200万像素拍摄仪、>10000mAH的5V移动电源辅助背光源板,可野外背光照明3小时。标配的最大测量面积380*265mm,自动标定和自动图像校正。
2、可拍照与分析一键化操作,同时分析多片叶的叶面积、周长,最大叶长、最大叶宽,矩形度,凹凸比,球状性,形状系数,虫洞数量,虫损和虫洞叶面积,以及单叶的叶孔洞、形状系数、锯齿数、叶柄长宽等参数,并标记叶片边缘以便核对正确性。
3、可分析小至1mm ^2的叶片,分析误差<0.5%、测量中的分析时间<2秒,自动独立标记各叶片并可保存图,分析结果可输出至Excel表。
4、可自动测定非相碰的稻谷、小麦、瓜子等普通种子的各粒粒长、粒宽、投影粒面积。
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